晶振测试仪

产品简介：

一、CX-117A是高性价比的晶振测试系统，采用微处理器技术，实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。它测量精度高，灵敏度高，速度快，闸门时间可选；具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能；中心频率（标称频率）F0、分档值Pr1  ～Pr8  (ppm)  、上限频率FU  、下限频率FL可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。。  

具有PPM测量功能，预置频率F0可任意设置。该功能特别适合于晶体振动器生产企业，测试结果显示直观。

主要功能：频率测量，PPM测量，周期测量，数据累计  ，功能设定

　　  

二、主要技术指标：  

　　频率测量范围：  0.1Hz  —  100MHz  

　　频率测量灵敏度：25mv  

　　PPm测量：10  Hz  —  100  MHz  

　　PPm测量精度：≤1  PPm  （1×10-6）  

　　（可扩展0.1PPm  ，  0.01  PPm）  

　　中心频率：0  Hz  —  100  MHz任意设定  

　　误差设置范围设定：  ±  1  —  ±  999  PPm任意设定。  

　　闸门设置：四档  ，0.01s、  0.1s、1s三档固定，  

　　1档闸门1ms  —  10s可设，  

　　每1mS为一阶梯任意设定。  

　　周期测量范围：100  ms  —  10  s  

　　时基频率：10MC  

　　晶振稳定性：5  ×10-7  /  日