最大测试管脚:192脚

集成电路测试仪测试适用范围：

元器件测试-适用于所有类型的集成电路的测试和元器件的筛选测试

电路板测试-适用各种电路板的检测(附加测试电缆线和各种封装的测试夹)

测试原理(v-i曲线测试)：

对元器件的每个管脚施加一个安全的低功率的扫描驱动信号，产生一个阻抗特征图，以备对比和存储。

被测器件和数据库中标准动态阻抗图相比对，阻抗图的差异大小即可判断元件的好坏和可用性。

测试信号可设定的参数包括:  电压、波形、源电阻、频率。可根据需要进行调整以便得到准确的信息。

1.从数据库选择要测试的集成电路型号.

2.将集成电路插入测试座.

3.执行测试

4.得到PASS或FAIL的测试结果.

商品输入检验

不需要电子专业知识.

适用于所有集成电路/封装件.及各种类型电路板

灵活、好安装、宜操作.

测试结果直接:  PASS或FAIL.

软件可设定各种测试条件.

可提供完整的元件测试分析报告.



适合不同封装形式的元件:

-双列插脚(DIL)

-小型封装集成集成电路(SOIC)

-小型封装(SSOP,  TSOP)

-塑料无引线芯片载体封装(PLCC)

-四方扁平封装(TQFP,  PQFP,  LQFP)

-球门阵列封装(BGA)

注意:  SENTRY不受限于只能测试电子集成电路,  也可用于整个模块。



测试通道

标准提供多达128个测试通道,  可设定用于不同的元器件封装。

升级模块：64通道 

可扩充到192/256个测试通道。

用两种模式扫瞄:

一般模式:  扫描信号是以一固定管脚为参考点,  测试信号施加到待测元器件上。

矩阵模式:  扫描信号是以元器件的各个管脚为参考点,  测试信号循环组合施加到待测元器件上。

通用型PLCC转接器(用于测试有20～84脚的PLCC封装)

数据库

用户可根据自己的需要，用性能完好的器件创建ic的测试数据库，以备日后测试使用。创建一个测试库仅需要数秒的操作时间，操作十分简单容易。



结果比较型式:



将数据库中的IC与待测ic的V-I曲线相比较,  即可判定被测IC的好坏,提供两种比较型式:



与数据库中元件比较:  被测IC的V-I曲线与数据库中的相同型号的IC比较

被测IC之间比较比较:  多个集成电路的之间的V-I曲线相比较。



软件-  灵活性

1)软件提供测试库图形化修改功能，以方便用户制作不同新封装形式器件的测试库, 

2)软件可以自定义各个通道的使用，一台机器可以同时检测多个器件



报告

1)软件可产生一详细的测量报告,  包含集成电路相片。这份报告可用于深入分析好坏集成电路的差异具体原因。

2)用户可处理集成电路的各种信息;  集成电路的动态阻抗图可储存在pc中，并可随时读出,  以与新的扫瞄阻抗图作比较。

3)为了今后使用方便,  可在集成电路的存储数据文件夹内增加其它信息,  包括:相片、PDF文件或甚至文字与电子表格。

了解详细资料请点击:http://www.ic168com